●10／18（水）～10／20（金）
展示会名：　FPD International 2006
場所：　パシフィコ横浜　　小間番号　467
展示装置 ： WTS－311L（OLED/LTPS/HTPS/LCOS用テストシステム）WTS-311Lシステムの採用による「アレイ欠陥の早期発見」は、以後のプロセスである「セル工程」「モジュール工程」における不良率低減を実現し、お客様の製造コストの削減と早期のマーケットインを可能にします。
会場においては、システムの展示ならびに、次世代のリーク検査、OLED加速検、COG対応多ピンデバイス向けの高精度検査の具体的なソリューションのご紹介を予定しております。また新しいソフトウェア「Review Tool」のデモを実施いたします。